前言

自癸卯年（2023年）八月《深入浅出SSD》第2版出版后，许多存储行业的朋友反馈：第2版的内容很好，为学习SSD存储提供了很大的帮助，行业内的新人和工程师几乎人手一本。作为中文版图书，《深入浅出SSD》第2版像第1版一样，继续推动着国内SSD存储技术的普及和行业的发展。对此笔者深感欣慰！

笔者从事SSD相关工作18年有余。时光荏苒，自1984年东芝的舛冈富士雄先生发明闪存至今已有40多年了。谁也没想到，如今闪存行业已发展为全球每年六七百亿美元产值的产业，并取代磁存储成为实现快存储的主要器件。在这个过程中，以闪存为核心存储器件的SSD功不可没。闪存及SSD能屹立潮头，凭借的是不断增加的存储密度、不断迭代提升的产品可靠性、不断跟随应用需求变化而变化的产品特性及唯快不破的极致性能等优势。

如今在国内产业链上，有提供闪存的原厂，有提供越来越好的消费级和企业级控制器的厂商，有能整合上下游资源为消费者提供各类型SSD产品的多家模组上市公司，有大量质优价廉的制造加工和封装测试企业，以及大量优秀的存储工程师队伍。版图已形成，产业发展进入快车道，剩下的就是各行各业做好产品、服务好国内外客户，争取在即将到来的每年千亿美元闪存产业蛋糕中分得更大的一块。

我们能做点什么？为SSD产业生态发展分享专业技术，对国内存储产品及相关企业进行宣传，为工程师提供技术咨询……这正是我们撰写“深入浅出SSD”系列书籍的原动力。

一款SSD产品的量产，无论是消费级还是企业级，都离不开主控芯片、固件、闪存等，如何把这些SSD器件集成在一起并顺畅工作？这就会涉及SSD硬件和固件的开发与测试。产品开发的内容，比如固件开发、闪存使用等，在《深入浅出SSD》中已有大量介绍，但是其中对测试的介绍很少。测试是保障SSD产品质量的基础，是SSD产品研发和量产环节中必不可少的一项支持性技术。测试是“隐藏的产品力”。

SSD质量要想由测试充分保障，就需要完善、全面的测试方法和流程，因为只有这样才能在出厂前挖出SSD一个又一个的缺陷。SSD测试按照研发阶段可以分为研发测试、系统兼容性测试、可靠性测试和量产测试等，测试对象包括SSD上的所有硬件组件和固件。各个阶段的测试又需要不同的测试工具、平台和方法的支持。测试所涉内容纷繁复杂又各不相同，所以有一本书能系统梳理和介绍各类SSD测试技术就显得非常有必要了。

综上，撰写一本专门介绍SSD测试的书正当其时。于是，撰写《深入浅出SSD测试》的想法诞生了，这本书将成为“深入浅出SSD”系列书籍的一块拼图。

为了完成本书，笔者抱着试试看的心态，找到资深测试大咖攻城狮、大毛、储鹤（Crane）和阿伦（Alan），并详细介绍了自己的想法，或许是点燃了大家多年积压的激情，我们一拍即合。说干就干，于是本书的写作正式开工了。

本书几乎覆盖了SSD测试的各个模块，既可以作为一本SSD入门书籍进行阅读，也可以作为SSD测试专业技术书籍进行阅读，特别适合SSD研发及存储系统研发企业的员工、存储方向的在校学生，以及其他对SSD感兴趣的人阅读。本书不仅可以帮助读者快速建立SSD测试知识体系，还可以在需要的时候作为工具书供查阅。

本书涵盖SSD测试概览（第1章）、SSD产品测试（第2～5章）、主控芯片测试（第6章）、闪存测试（第7章）、测试认证（第8章）、仪器与设备（第9章）等与SSD测试相关的各个方面。

● SSD测试概述，简要介绍了SSD和SSD测试相关的基础知识，包括什么是SSD测试、SSD测试的目的和重要性、对SSD测试从业者和团队的基本要求等重点内容。

● SSD产品测试，首先分别基于立项、计划、设计与开发、执行、总结这几个阶段介绍了SSD测试的主要工作内容及对应实现方法，然后介绍了测试管理相关内容，接着介绍了SSD测试的分类及不同类型测试的设计与实现方法，最后介绍了SSD的通用测试平台、测试软件和专用测试平台。

● 主控芯片测试，总体介绍了用于主控芯片测试的主要软硬件平台，以及在对应平台上进行主控芯片测试的方法。

● 闪存测试，重点介绍了闪存的失效模式，以及闪存测试的主要方法。

● 测试认证，介绍了业界主要SSD认证测试项目，包括PCI-SIG、UNH-IOL、WHQL及国内测试标准等。

● 仪器与设备，重点介绍了几种用于SSD测试的仪器设备，包括RDT可靠性测试设备、协议分析仪等。

为了保证本书的高质量，我们在内容和表达两个方面都进行了严格打磨（字斟句酌），为此我们开了无数次周会进行讨论，甚至对部分内容进行过大面积重写。目的就是希望本书能给读者带来良好的阅读体验和满满的收获。当然，我们的水平毕竟是有限的，再加上时间仓促，书中难免会出现一些错误或者不准确的地方，恳请读者批评指正，你可通过微信号（bobhu002）或邮箱（nand_tech@126.com）随时与我们进行交流。

胡波
写于上海