3.4.2　考虑ICT测试应力的设计

ICT测试时尽量设计专用的测试焊盘，避免采用元器件焊盘或元器件引脚作为测试点，以免对元器件造成应力损伤，如图3.11所示。单板密度较高时可以采用“过孔兼做测试点”的设计方式。