购买
下载掌阅APP,畅读海量书库
立即打开
畅读海量书库
扫码下载掌阅APP

前言
INTRODUCTION

笔者经常收到一些网友发来的关于电子制造工艺问题的邮件,问题主要集中在3个方面:①某某焊接不良,通过钢网开窗优化、温度曲线调试等各种处理但依然解决不了;②某某设计的工艺不知道行不行;③焊点开裂/断裂的原因是什么,是焊接问题还是使用问题?

前两类问题属于工艺问题,只要清楚工艺原理、了解工艺窗口和基础数据,一般都比较容易解决。但是,关于焊点开裂/断裂的问题,往往比较复杂,它既是一个工艺问题,也是一个可靠性问题,往往与焊点可靠性设计、制造都有关系,本质上是工艺可靠性的问题。在与网友的交流中,笔者深切地体会到,很多一线的工程师整天忙于在生产线上“救火”,不停地处理一些诸如桥连、移位、空洞等低级的重复性问题,却很少关注更重要的可靠性问题;基本上对焊点的可靠性没有太多的概念,既不清楚焊点开裂的基本类型,也不清楚如何识别与改善。因此,笔者萌生了写作本书的想法。

PCBA(Printed Circuit Board Assembly,印制电路板组件)的工艺可靠性问题包括:PCBA的环境可靠性、焊点互连可靠性、PCB互连可靠性、连接器互连可靠性。而焊点开裂/断裂就是焊点互连失效,就其起因而言,主要有3种:缺陷焊点、过载开裂(拉伸、跌落、弯曲、振动等)和疲劳失效(与时间有关的累积损伤)。

缺陷焊点:主要与制造质量有关,如片式元件的不对称焊点、BGA(球栅阵列封装)的枕头效应焊点、CBGA(陶瓷球栅阵列封装)的缩颈焊点、ENIG(化镍金)镀层形成的脆性界面焊点、插件的包锡焊点和垂直填充不足的焊点等,这些都是典型的缺陷焊点,抗应力或抗疲劳能力不足,早期失效的焊点大多数是这些“带病”的焊点。

过载开裂:除了汽车、飞机、火箭、工程机械等少数产品,大多数的产品一般不会工作在振动或冲击载荷下,因此大多数产品的过载开裂较少发生在使用环境下,而更多地发生在组装和运输过程中。组装应力在电子产品的装焊过程中无处不在,如手工插件、ICT测试、安装螺钉、分板、单板周转等操作,都可能导致PCB的多次弯曲或过应力加载,在这种情况下,片式电容、BGA等封装很容易因过载而失效(包括元器件本身及焊点)。

疲劳失效:是焊点可靠性研究的主要问题。电子产品在使用过程中,会因环境温度的变化、电源的开/关或功率的加载而处在温度交变的环境中。由于元器件与PCB的热膨胀失配,因此会使焊点受到交变载荷(通常为剪切应力)的作用,从而使焊点因累积的损伤(疲劳)而断裂,这是绝大部分焊点失效的主要原因,也是本书讨论的重点问题。

焊点可靠性取决于设计与使用环境条件。就疲劳失效而言,在设计上主要应关注元器件与PCB的热膨胀匹配性、焊点的应力集中问题。具体地就是选择合适的封装、合适的PCB基材/结构与合适的焊点连接(结构),其核心的目标就是,避免焊点承受超过屈服强度的交变载荷的作用。

关于焊点可靠性设计与试验,业界有一些规范。例如,IPC-D-279、IPC-SM-785、IPC-9701等。这些规范对焊点的失效模式、失效机理、影响因素、可靠性设计、温度循环试验等有比较系统的讨论,为焊点的可靠性分析、可靠性设计、可靠性试验、寿命评估提供了最基本的指引。

可靠性工程方法最早源自军事工业,因此在军工行业最早形成了一套可靠性分析、可靠性设计、可靠性试验的做法。简单地讲,就是在设计阶段,采用故障树(FTA)、失效模式影响及危害性分析(FMEA)、仿真分析技术和可靠性试验技术寻找、强化薄弱环节,提升疲劳寿命与可靠性。在制造阶段,严格工艺控制,确保焊点完整性。组装完成后,采用环境应力筛选(ESS)剔除常规测试难以发现的潜在故障焊点等。这些传统的做法,实践证明是有效的。

焊点可靠性属于产品可靠性的最低层级,只要了解焊点的失效机理及影响因素,掌握焊点可靠性的设计方法,以及典型的失效场景(指互连结构),就可以在很大程度上改善焊点的可靠性。基于此,本书在材料建构上,用了很大的篇幅介绍焊点开裂/断裂的机理与典型特征、典型的缺陷焊点、典型的失效场景,一个很重要的目的就是希望读者阅读完本书后能够识别PCBA潜在风险焊点,这是焊点可靠性分析、可靠性设计的基础。

本书是一本有关单板可靠性技术的个人经验总结,讨论了PCBA常见的失效模式、典型失效场景以及如何设计与制造高可靠性产品的问题,并重点讨论了焊点的失效问题。全书内容共4个部分,第一部分为焊点失效机理与裂纹特征,详细介绍焊点的失效现象、失效机理、裂纹特征及失效分析方法;第二部分为高可靠性产品的焊点设计,主要内容包括封装选型、PCBA的互连结构设计、组装热设计及焊点的寿命评估技术;第三部分为环境腐蚀与三防处理,重点介绍腐蚀失效与锡须问题,以及与之相关的清洗和三防工艺;第四部分为高可靠性产品的制造,重点介绍组装工艺控制要点与典型缺陷焊点。

本书由贾忠中执笔,参与写作的还有张华、赵宗启。

本书得以完成,要感谢中兴通讯制造工程研究院黄睿院长、智能制造技术开发部王峰部长的大力支持,为笔者在职期间创造了一个非常好的工作条件,这是本书能够完成的重要基础。还要感谢我的妻子,感谢她对我工作的理解与支持,感谢她为家庭的默默付出,使我有时间完成本书的写作。

还要感谢深圳市唯特偶新材料股份有限公司对本书出版的大力支持,使得本书能以全彩的形式呈现给读者。

读者的需要永远是笔者写作的第一动力,每当在公开的技术论坛、展会,听到“联系实际、接地气、实用”的赞誉;每当听到把笔者的书当作企业内训教材,笔者都会感到一些欣慰,为能够对中国电子制造业贡献一点微薄力量感到荣幸。借本书出版之机,对广大读者的厚爱与鼓励,致以崇高的敬意和感谢!


2024年1月于深圳 IyhAHVjdMxaiWTABP+5LMI8MS5QqP4JHVd9sZ0hJAyMzyWbhfnjMpbmUeRffQlS2

点击中间区域
呼出菜单
上一章
目录
下一章
×