在选择测量方法时,应首先研究被测量本身的特性及所需要的精确程度、环境条件及所具有的测量设备等因素,综合考虑后,再确定采用哪种测量方法和选择哪些测量设备。
一个正确的测量方法可以得到好的结果,否则,不仅测量结果不可信,而且有可能损坏测量仪器、仪表和被测设备或元器件。下面举例说明。
例1 用万用表的 R ×1Ω档测试晶体管的发射结电阻或用图示仪显示输入特性曲线时,由于限流电阻较小,而使基极电流过大,所以结果可能使晶体管在测试过程中被损坏。
例2 测量图1-7所示放大电路中场效应晶体管VT的漏极电位时,设在漏极与“地”之间用一只内阻为10MΩ的数字电压表来测量,其值为 V D =10V,而用20kΩ/V的万用表直流电压6V档测量,其值 =5V(仪表的准确度影响不计)。为什么相差这么大?下面试分析一下。
图1-7 用万用表测高内阻回路电压
解 由于万用表的内阻
R V =20kΩ/V×6V=120kΩ
显然, R V 与等效电阻 R 0 = R D 对 U D =10V的分压就是万用表的示值 U D 。因此有
例3 一测量电流电路如图1-8所示,当未串接测量仪表时,回路的实际电流(即真值)为 I = U / R ,串接测量仪表后,由于仪表内阻 r i 的影响,实际的测量值为
只有当 r i << R ,测量值 I ′才近似接近真值 I ,否则误差很大。
图1-8 测量电流电路示意图