在电力系统交接和预防性试验中,测量泄漏电流时,常遇到的主要异常情况如下。
(1)指针来回摆动。这可能是由于电源波动、整流后直流电压的纹波因数比较大以及试验回路和被试设备有充放电过程所致。若摆动不大,又不十分影响读数,则可取其平均值;若摆动很大,影响读数,则可增大主回路和保护回路中的滤波电容的电容量。必要时可改变滤波方式。
(2)指针周期性摆动。这可能是由于回路存在反充电所致,或者是被试设备绝缘不良产生周期性放电造成的。
(3)指针突然冲击。若向小冲击,可能是电源回路引起的;若向大冲击,可能是试验回路或被试设备出现闪络或产生间歇性放电引起的。
(4)指针指示数值随测量时间而发生变化。若逐渐下降,则可能是由于充电电流减小或被试设备表面绝缘电阻上升所致;若逐渐上升,往往是被试设备绝缘老化引起的。
(5)测压用微安表不规则摆动。这可能是由于测压电阻断线或接触不良所致。
(6)指针反指。这可能是由于被试设备经测压电阻放电所致。
(7)接好线后,未加压时,微安表有指示。这可能是外界干扰太强或地电位抬高引起的。
遇到(3)、(4)两种情况时,一般应立即降低电压,停止测量,否则可能导致被试设备击穿。
(1)泄漏电流过大。这可能是由于测量回路中各设备的绝缘状况不佳或屏蔽不好所致,遇到这种情况时,应首先对试验设备和屏蔽进行认真检查,例如电缆电流偏大应先检查屏蔽。若确认无上述问题,则说明被试设备绝缘不良。
(2)泄漏电流过小。这可能是由于线路接错,屏蔽线处理不好,微安表保护部分分流或有断脱现象所致。
(3)当采用微安表在低压侧读数,且用差值法消除误差时,可能会出现负值。这可能是由于高压引线过长、空载时电晕电流大所致。因此高压引线应当尽量粗、短,无毛刺。
在泄漏电流测量中,有时发生硅堆击穿现象,这是由于硅堆选择不当、均压不良或质量不佳所致。为防止硅堆击穿,首先应正确选择硅堆,使硅堆不致在反向电压下击穿;其次应采用并联电阻的方法对硅堆串进行均压,若每个硅堆工作电压为5kV时,每个并联电阻常取为2MΩ。