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由上述可知，当直流电压加于被试设备时，其充电电流（几何电流和吸收电流）随时间的增长而逐渐衰减至零，而漏导电流则保持不变。故微安表在加压一定时间后其指示数值趋于恒定，此时读取的数值则等于或近似等于漏导电流即泄漏电流。
图2-2 绝缘的伏安特性
对于良好的绝缘，其漏导电流与外加电压的关系曲线应为一直线。但是实际上的漏导电流与外加电压的关系曲线仅在一定的电压范围内才是近似直线，如图2-2中的OA段。若超过此范围后，离子活动加剧，此时电流的增加要比电压增长快得多，如AB段，到B点后，如果电压继续再增加，则电流将急剧增长，产生更多的损耗，以至绝缘被破坏，发生击穿。
在预防性试验中，测量泄漏电流时所加的电压大都在A点以下，故对良好的绝缘，其伏安特性i=f（u）应近似于直线。当绝缘有缺陷（局部或全部）或受潮的现象存在时，则漏导电流急剧增长，使其伏安特性曲线就不是直线了。因此可以通过测量泄漏电流来分析绝缘是否有缺陷或是否受潮。在揭示局部缺陷上，测量泄漏电流更有其特殊意义。