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2.1 光线追迹 Ray Tracing

光线追迹是光学设计的核心技术,各种光学分析功能都是基于准确的面型定义以支持真实光线追迹而进行的。为了实现不同的光线追迹,需要同时可以实现近轴光线和真实光线的计算,这两点都被整合到了表面面型中,另外将提供不同的表面类型供选择使用,包括球面、二次圆锥非球面、高次非球面以及自由曲面等多种面型。最新的技术还提供了动态链接库的扩展接口DLL,可以实现自定义的面型。

对于球面类型,根据曲面的定义可以直接使用公式求得光线新的位置,公式如下:

但是对于包含标准面型的高次非球面型等多项式面型,则采用迭代的方法:

除了这两个基本的面型之外,还包括理想透镜、变形非球面、代表自由曲面的扩展多项式面型等。多数的面型,尤其是高次非球面,都是通过迭代的方式进行计算的。

最终的迭代结果可以满足光线分析的精度,这样每根光线在不同面型的位置和角度都可以准确的获得。 +12WuFwdvZ5twHzOs9wiS1rqq7/OrNR8IFTkQUm3jDXgUF6ch1hym+juG1zQ7NFA

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