购买
下载掌阅APP,畅读海量书库
立即打开
畅读海量书库
扫码下载掌阅APP

内容简介

资深芯片验证专家刘斌(路桑)围绕目前芯片功能验证的主流方法—动态仿真面临的日常问题展开分析和讨论。根据验证工程师在仿真工作中容易遇到的技术疑难点,本书内容在逻辑上分为SystemVerilog疑难点、UVM疑难点和Testbench疑难点三部分。作者精心收集了上百个问题,给出翔实的参考用例,指导读者解决实际问题。在这本实践性很强的书中,作者期望能够将作者与诸多工程师基于常见问题的交流进行总结,以易读易用的组织结构呈现给读者,目的是帮助芯片验证工程师更有效地处理技术疑难点,加快芯片验证的调试过程。

本书面向在岗的芯片验证工程师,可作为日常桌边工作手册翻阅,也可用于工作之余查漏补缺以提高自身技术能力。 f3oVXc0EViKsaFS5dx5cRNUrqvdM6UJhsZiW0P1JU+GG98ekYdHgiYeHYTuHf+Nn

点击中间区域
呼出菜单
上一章
目录
下一章
×