K-edge成像

米尔科·登莱乌（Milko den Leeuw）

1．分类

K-edge成像（K-edge imaging）属于非侵入式成像技术。它利用的X射线属于电磁频谱中非可见光波段。

2．说明

K-edge成像是基于同步辐射的技术。同步辐射波几乎可覆盖整个电磁频谱。K-edge成像使用单色仪把这种多色辐射调谐到一个特定的波长，以实现对一种单一物质（颜料）的可视化。可用K-edge成像对绘画进行扫描，以映射个别元素的分布，从而实现特定颜料分布的可视化。

3．应用

K-edge成像可用不同的图像分别显示不同种绘画颜料的分布。它的图像会显示一种颜料粉在画面上出现的所有位置，包括量少的部位。这种技术的成像相对快速，图像质量和分辨率也较高。此外，K-edge成像可以检测被较重元素包围的较轻元素（颜料粉）。K-edge成像可以显现艺术家的笔法和颜料调和方式，因此可利用它窥视艺术家的创作方法和技法。K-edge成像尤其适于研究多层的绘画（包括双重构图）。在绘画中不同层使用了不同颜料的情况下，可用这项技术检测出画面从底层到表层的变化。

K-edge成像可检测无铅绘画的龟裂纹理。此外，它还可以提供隐藏绘画层的状态信息，并显现隐藏层的龟裂。

4．局限性

K-edge成像不能区分元素（颜料）在颜料层中的确切深度，因此需要配合补充技术使用。K-edge成像无法检测到吸收能量在5~20 keV范围内发光的元素，这就意味着无法用它检测颜料中一些有用的元素，如铬和锌。K-edge成像所需的设备使用成本很高，是一项昂贵的技术。

5．补充技术

昼光照相术、紫外照相术、红外照相术、红外反射成像、红外假彩色照相术、X射线荧光成像、X射线照相术以及同步辐射X射线荧光成像。

6．技术规范与注意事项

—管式-阳极、品牌和型号

—电压（单位：kV）

—电流（单位：mA）

—曝光时间

—探测器

7．技术简史

K-edge成像起源于医学领域，首次应用于1984年，同年，E.巴里·休斯（E. Barrie Hughes）等申请了这项技术的专利。最先发表艺术品检测领域K-edge成像应用的是米尔科·登莱乌（Milko den Leeuw）、乔里斯·迪克（Joris Dik）、克里斯蒂安·内莫（Christian Nemoz）、保拉·科安（Paola Coan）和阿尔贝托·布拉文（Alberto Bravin）。

8．文献

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