左手介质表现出许多“反常”的特性，如逆多普勒效应，逆Vavilov Cerenkov辐射，负折射（逆Snell定律），逆Goos-Hänchen位移，超分辨率成像等。这里从微波及电磁场关心的问题的角度去讨论其中的一些特性，如左手介质中辐射场的内向波，色散对左手介质多普勒频移的影响和有耗左手介质平板的成像分辨率等，还包括较早的微波左手介质负折射实验的介绍。 wvJ1FcXAwqEwHhoT3YKDYg7LcpyzU+VIRCECjm9QR+o8XwwR352b0PfUm7w97b1Z