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4.3 访问外部存储器的实验

【实验 4-1】外部存储器控制信号的测试。

为了判断外部存储器和单片机的工作是否正常,可用示波器和万用表对外部存储器控制总线的信号进行测试。

(1)打开实验板的电源,分别用示波器和万用表(直流电压挡)测试单片机的ALE和 信号。请分别记录测试结果并分析。

(2)输入下面的两个程序并全速运行,分别用示波器和万用表(直流电压挡)测试单片机的ALE和 、外部数据存储器的 (片选)、 (RAM芯片上的输出使能引脚 )和 信号。请分别记录测试结果并分析。

程序一:测试单片机的ALE和 信号。

程序二:测试单片机的ALE、外部数据存储器的 (片选)、 (RAM芯片上的输出使能引脚 )和 信号。

【实验 4-2】按键。

按键是单片机系统的人机接口中最常见的。本实验是为了让读者对按键接口及其防抖功能具有具体的印象。

程序一:测试按键的抖动。

在实验本程序前,先在单片机的P1.0与地之间接上一个按键,如果没有按键可以直接用导线对P1.0与地短接来替代。在程序HALT标号处设置断点,然后全速运行程序,再按下一次按键(或用导线对P1.0与地短接一下),看看程序是否已经停止在HALT处,如果还没有的话可以再按动一下按键。

请思考,你按下了几次按键,而单片机检测出了几次按键,为什么?

实际上,在你按下一次按键时,并不是理想上的只出现一次“干净利落”的低电平脉冲,由于按键中弹性元件或使用导线替代按键时导线弹性、触点的接触电阻、电路的分布电容等影响,在按下按键或抬起按键时,脉冲前沿和后沿均会出现一系列尖毛刺,如图 4-10所示。而单片机运行的速度特别快,结果在按下一次按键时单片机却检测为多次按键。为避免出现这种情况,通常:

①根据按键抖动的频率和通常人们按键的速度,调用 100ms左右的延时程序来跳过按键抖动的时间;

②检测后沿(按键抬起)作为一次有效按键。因此,给出实用按键程序如下。

图 4-10 按键的抖动

程序二:实用按键程序。 6u0jfHph0KjMcP/rFnZzXMkzOzM5hr8E1LuvmWT/5Cockb1nksiZkCxRryw3VhgM

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