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【目的】
在设计高速电路版图时，只要信号遇到阻抗突变，就会发生发射。阻抗突变的地方可能在线末端或者是互连线拓扑结构发生改变的任何地方，如拐角、过孔、接插件、封装等地方。理解信号反射的源头和使用仿真、测量工具来预测反射大小，能够有助有信号完整性工程师进行版图阻抗控制。
针对无源物理互联结构的阻抗不连续性，可以使用时域反射计（TDR）进行测量。时域反射计由一部极高速示波器和一个阶跃信号发生器构成。图3-1所示的是其示意图，其原理是由阶跃信号发生器产生一个阶跃信号E i 到被测件，然后测量反射信号的大小E r 并记录延迟时间，反射系数ρ=E r /E i ，利用反射系数即已知的仪器特性阻抗Z 0 ，即可推算被测件的特性阻抗Z=Z 0 （1+ρ）/（1-ρ）、杂散电容及杂散电感等值。一般主要的应用为测量电缆线断点的距离、印制电路板布线的特征阻抗、杂散电容及杂散电感值的估算及 IC 封装电气参数的抽取等。
图3-1 时域反射计原理图
使用仿真软件，能够方便快捷地对PCB走线以及PCB及高速连接器的配合情况进行TDR仿真，帮助工程师进行故障分析及定位。
在后续实验中，通过传输线及传输线和高速连接器的TDR仿真来说明其仿真流程。