时序输入指令主要包括基本输入指令、电路块操作指令、连接型微分指令以及位测试类指令。

4.1.1　基本输入指令

基本输入指令是直接对输入进行操作的指令，CP1H系列PLC的基本输入指令主要包括读（LD）、非读（LDNOT）、与（AND）、与非（ANDNOT）、或（OR）、或非（ORNOT）、非（NOT）等指令。

（1）读、非读、输出指令

LD（Load，读指令）：表示逻辑起始，将常开触点与左母线连接。LDNOT（非读指令）：表示逻辑起始，将常闭触点与左母线连接。OUT（输出指令）：将逻辑运算处理结果输出到指定接点，该指令为基本输出指令，为便于内容的叙述，在此讲述。这三指令格式如表4-1所示。

使用说明

①在语句表指令中，“//”表示注释。

②LD、LDNOT指令表示逻辑开始指令，直接连接在母线上。

③通过AND LD指令或OR LD指令连接电路块时，AND LD或OR LD指令将从本LD/LDNOT指令开始的电路块进行串联或并联连接。

④输出指令不能直接连接在母线上，其输入条件中必须有一个以上的LD/LDNOT指令，若没有LD/LDNOT指令，CX-Programmer的“条”中自动以红色显示，表示指令输入错误。

例4-1　合上电源开关，没有按下点动按钮时，指示灯亮，按下按钮时电动机转动。分别使用PLC梯形图、语句表指令实现这一控制功能。

解　点动按钮SB与PLC输入端子0.00连接。电动机M1由KM0控制，KM0的线圈与PLC输出端子100.00连接，指示灯与PLC输出端子100.01连接，PLC控制程序如表4-2所示。

（2）与、与非指令

AND（与指令）、ANDNOT（与非指令）为触点串联指令，其中AND在梯形图中表示串联一个常开触点以形成逻辑“与”操作；ANDNOT在梯形图中表示串联一个常闭触点以形成逻辑“与非”操作。

使用说明

①AND和ANDNOT指令是单个触点串联连接指令，可连续使用。

②AND和ANDNOT指令不能直接连接在母线上，也不能用于电路块的开始部分。

③无每次刷新指定时，这两条指令都可读取I/O存储器指定位的内容；有每次刷新指定时，AND指令读取CPU单元内置输入端子的实际接点状态；ANDNOT指令对CPU单元内置输入端子的实际接点状态取反后读出。

例4-2　在某一控制系统中，SB0为停止按钮，SB1、SB2为点动按钮，当SB1按下时电机M1启动，此时再按下SB2时，电机M2启动而电机M1继续工作，如果按下SB0，则两个电机都停止工作，试用PLC实现其控制功能。

解　SB0、SB1、SB2分别与PLC输入端子0.00、0.01、0.02连接。电机M1、电机M2分别由KM0、KM1控制，KM0、KM1的线圈分别与PLC输出端子100.00和100.01连接，PLC控制程序如表4-3所示。

（3）或、或非指令

OR（或指令）、ORNOT（或非指令）为触点并联指令，其中OR在梯形图中表示并联一个常开触点以形成逻辑“或”操作；ORNOT在梯形图中表示并联一个常闭触点以形成逻辑“或非”操作。

使用说明

①OR和ORNOT指令是单个触点并联连接指令，可连续使用。

②无每次刷新指定时，这两条指令都可读取I/O存储器指定位的内容；有每次刷新指定时，读取CPU单元内置输入端子的实际接点状态。

例4-3　在两人抢答系统中，当主持人允许抢答时，先按下抢答按钮的进行回答，且指示灯亮，主持人可随时停止回答，试用PLC实现其控制功能。

解　设主持人用转换开关SA来设定允许/停止状态，甲的抢答按钮为SB0，乙的抢答按钮为SB1，抢答指示灯为HL1、HL2。SA、SB0、SB1分别与PLC输入端子0.00、0.01、0.02连接。HL1、HL2分别与PLC输出端子100.00和100.01连接，PLC控制程序如表4-4所示。

（4）非指令

NOT（非指令）：又称为取反指令，将输入条件取反，连接到下一段。该指令没有操作数。指令格式如表4-5所示。520为“非”指令的功能号，用户可以不输入，系统自动生成。

使用说明

①NOT指令为下一段连接指令。

②在NOT指令的最终段中需加上输出类指令，如OUT指令以及下段连接型指令之外的功能指令。

③NOT指令不能在回路的最终段中使用。

例4-4　在某一控制系统中，有4个按钮SB0～SB3和1个指示灯HL，要求同时按下SB0、SB2或者按下SB3而没按下SB1时，指示灯HL处于熄灭状态，否则HL点亮。

解　SB0、SB1、SB2、SB3分别与PLC输入端子0.00、0.01、0.02和0.03连接。根据要求也就是输入0.00和0.02的信号状态为“1”或者在输入0.03的信号状态为1且输入0.01的信号状态为0时，则输出100.00为0，否则输出100.00为1，PLC控制程序如表4-6所示。

4.1.2　电路块操作指令

电路块操作指令包含块“与”（ANDLD）指令和块“或”（ORLD）指令。

（1）块“与”指令

ANDLD（块“与”指令）：又称为电路块的串联指令，用于2个或2个以上触点并联在一起的电路块的串联连接。

使用说明

①将并联回路块串联连接进行“与”操作时，回路块开始用LD或LDNOT指令，回路块结束后用ANDLD指令连接起来。

②ANDLD指令不带操作数，是一条独立指令，ANDLD指令可串联多个并联电路块，支路数量没有限制。

③串联3个以上的电路块时，可以采取顺序连接的形式，即先通过ANDLD指令串联2个电路块后，再通过ANDLD指令串联下一个电路块。另外，也可以在3个电路块之后继续配置ANDLD指令，进行一次性串联。

例4-5　 ANDLD的使用如表4-7所示。

条0中a由0.00和0.01并联在一起然后与0.02串联，不需要使用串联块命令ANDLD；b由0.03和0.04并联构成一个块再与0.02串联，因此需要使用ANDLD命令；c由0.05和0.06并联构成一个块再与块b串联，因此也需要使用ANDLD命令。

条1中由块d、块e、块f串联而成，因此块d、块e串联时需一个ANDLD，块f与前面电路串联时也需一个ANDLD，指令表如编程方法1所示。条1的指令表中也可以先将3个并联回路写完再书写ANDLD，如编程方法2所示。

（2）块“或”指令

ORLD（块“或”指令）：又称为电路块的并联指令，用于2个或2个以上触点串联在一起的电路块的并联连接。

使用说明

①将串联回路块串联连接进行“或”操作时，回路块开始用LD或LDI指令，回路块结束后用ORLD指令连接起来。

②ORLD指令不带操作数，是一条独立指令，ORLD指令可并联多个串联电路块，支路数量没有限制。

③并联3个以上的电路块时，可以采取顺序连接的形式，即先通过ORLD指令并联2个电路块后，再通过ORLD指令并联下一个电路块。另外，也可以在3个电路块之后继续配置ORLD指令，进行一次性并联。

例4-6　ORLD的使用如表4-8所示。

条0中由块a、块b、块c并联构成，块a由0.00、0.01、0.02串联在一起；块b由0.03、0.04、0.05串联在一起；块c由0.06、0.07串联在一起。因此块a、块b并联时需一个ORLD，块c与前面电路块并联时也需一个ORLD，指令表如编程方法1所示。条0的指令表中也可以先将3个串联回路块写完再书写两个ORLD，如编程方法2所示。

条1中由块f、块g、块h并联而成，而块f又由块d和块e串联而成。块f、块g并联时需一个ORLD，块h与前面电路块并联时也需一个ORLD，指令表如编程方法1所示。条1的指令表中也可以先将块f、块g、块h这3个串联回路写完再书写ORLD，如编程方法2所示。

4.1.3　连接型微分指令

连接型微分指令包括连接型上升沿微分（UP）指令以及连接型下降沿微分（DOWN）指令，其指令格式如表4-9所示。521为UP指令的功能号，522为DOWN指令的功能号，用户可以不输入，系统自动生成。

UP（连接型上升沿微分指令）：又称为连接型正跳变输入指令，某操作数出现由0到1的上升沿跳变时，使触点闭合，形成一个扫描周期的脉冲，驱动后面的输出线圈。

DOWN（连接型下降沿微分指令）：又称为连接型负跳变输入指令，某操作数出现由1到0的下降沿跳变时，使触点闭合，形成一个扫描周期的脉冲，驱动后面的输出线圈。

使用说明

①UP和DOWN为下一段连接型指令，只有在输入信号变化时才有效，因此一般将其放在这一变化脉冲出现的语句之后，输出的脉宽为一个机器扫描周期。

②UP、DOWN无操作数，不适用于电路的最终端。

例4-7　连接型微分指令的使用及时序如表4-10所示。当检测到0.00由OFF→ON（上升沿）且0.01接通时，输出100.00接通一个扫描周期；当检测到0.02由ON→OFF（下降沿）且0.03为ON时，输出100.01接通一个扫描周期。从时序图中可以看出，若0.01为OFF，即使检测到0.00的上升沿，100.00也不接通。同理，若0.03为OFF，即使检测到0.02的下降沿，100.01也不接通。

例4-8　根据梯形图，画出100.00、100.01、100.02的时序图，如表4-11所示。其中条0、条1和条2控制一组时序，条3、条4和条5控制另一组时序。

4.1.4　位测试类指令

位测试类指令包括位测试指令和位测试非指令。位测试类指令的输入端可以直接连到左母线，输出端不能直接连到右母线。

（1）位测试指令

位测试指令包含了LD型位测试指令、AND型位测试指令、OR型位测试指令，各指令格式如表4-12所示。其中，S为测试数据通道编号；N为测试的位号，位范围数据通常为0000～000F（十六进制）或0～15（十进制）。

使用说明

①位测试指令是用来检测S通道的第N位的状态，若为1，则指令的输入输出端直通。

②LD型位测试指令是可以直接连接在母线上的下一段连接型指令。

③AND型位测试指令为AND（串联）型的下一段连接型指令，不能直接连接在母线上。

④OR型位测试指令为OR（并联）型的下一段连接型指令。

例4-9　位测试指令的使用如表4-13所示。在条0中，当数据存储器D20的第3位为1时，指令的输入输出端直通，100.00线圈得电；在条1中，当数据存储器D20的第4位为1并且0.00常开触点闭合时，指令的输入输出端直通，100.01线圈得电；在条2中，当数据存储器D20的第2位为1或者0.01常开触点闭合时，指令的输入输出端直通，100.02线圈得电。

（2）位测试非指令

位测试非指令包含了LD型位测试非指令、AND型位测试非指令、OR型位测试非指令，各指令格式如表4-14所示。其中，S为测试数据通道编号；N为测试的位号，位范围数据通常为0000～000F（十六进制）或0～15（十进制）。

使用说明

①位测试非指令是用来检测S通道的第N位的状态，若为0，则指令的输入输出端直通。

②LD型位测试非指令是可以直接连接在母线上的下一段连接型指令。

③AND型位测试非指令为AND（串联）型的下一段连接型指令，不能直接连接在母线上。

④OR型位测试非指令为OR（并联）型的下一段连接型指令。

例4-10　位测试非指令的使用如表4-15所示。在条0中，当数据存储器D20的第4位为0时，指令的输入输出端直通，100.00线圈得电；在条1中，当数据存储器D20的第3位为0并且0.00常开触点闭合时，指令的输入输出端直通，100.01线圈得电；在条2中，当数据存储器D20的第2位为0或者0.01常开触点闭合时，指令的输入输出端直通，100.02线圈得电。